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·Quattro掃描電鏡具有環(huán)境真空功能的極靈活、多功能高分辨率掃描電鏡
MLA(MineralLiberationAnalyzer)是一套自動(dòng)化礦物分析系統(tǒng),能夠?qū)r心、顆粒或塊狀材料的拋光面進(jìn)行礦物成分分析,并對(duì)眾多礦物特性進(jìn)行量...
新的Prisma環(huán)境掃描電子顯微鏡(SEM)結(jié)合了廣泛的成像和分析模式與全新的的自動(dòng)化,以提供在同類儀器中的最完整的解決方案
·ExplorerTM4Analyzer是用于顆粒物分布統(tǒng)計(jì)過程控制的解決方案,幫助確定制造工藝是否受控、查找殺手級(jí)顆粒以及大批量顆粒表征
?Apreo革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù),可產(chǎn)生的高分辨率和信號(hào)選擇
Verios是FEI的XHR(分辨率)SEM系列的第二代產(chǎn)品
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