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晶圓缺陷參數檢測 : 非接觸測試解決方案 參考價：面議
晶圓缺陷參數檢測 : 非接觸測試解決方案，基于我司自主研發的激光自動聚焦、自動化顯微成像、寬場熒光成像、共焦光致發光和拉曼光譜等核心測試技術，聯合白光干涉等其它...
晶圓缺陷檢測：寬場熒光顯微成像模組 參考價：面議
晶圓缺陷檢測：寬場熒光顯微成像模組，以自動化顯微鏡模組為基礎，針對 SiC 等化合物半導體晶圓位錯、層錯等缺陷檢測需求。
半導體缺陷檢測：自動化顯微成像模組 參考價：面議
半導體缺陷檢測：自動化顯微成像模組，針對半導體集成電路工藝線從表面缺陷檢查到圖形尺寸測量等各環節自動化視覺檢測需求。
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