多片OLED器件IVL+視角測量系統

主要應用于OLED材料和OLED屏體生產工廠，滿足客戶大批量的OLED器件的IVL特性和亮度視角特性測試需求。

系統特點

1.大批量器件的測試
系統配有多通道電路選擇器，可支持多達24片共96個發光點的OLED器件依次點亮測試（具體器件和發光點數量可定制）。測試前可預點亮所有發光點以確認器件是否均正常。

2.發光區域中心自動對位識別
工業視覺對位CCD自動識別發光點位置，不管是垂直測IVL還是旋轉器件測視角亮度，始終保證測量點對準發光區域中心。

3.大視角范圍測試
即使是3*3mm的發光點，在測視角時仍可以滿足75度視角以上的測試要求。同時工業視覺對位相機可修正旋轉時產生的測量點偏差，保證大視角下測量點依然對準器件發光中心。

4.高低溫溫控箱
可選配高低溫箱（溫控范圍：-40-100℃）

5.光譜儀的高速測量
為節省低輝度下的光譜儀測量時間，弗士達支持CS-2000A的高速Dll模式并對其優化，以實現亮度大量程和快速測量的結合，以節省測量時間，提高機臺的測試效率

OLED器件IVL測試系統測量軟件

I-V-L曲線測量的設定
1.可以設定起始電壓、終止電壓、電壓步長，進行連續的測量
2.可以設定起始電流密度、終止電流密度、電流密度步長，進行連續測量
3.可以單獨設定電流密度的亮度檢測下限值，低于下限值時僅測電流電壓，超過下限值后同時測電壓電流亮度等數據
4.可以設定并保存設定的機種參數，下次測量時可以直接調用

I-V-L的測量數據
測量的結果包括：亮度L(cd/m2)，電流效率(mA/cm2)，發光效率，外量子效率，色坐標(x，y)，色溫，顯色指數CRI，發光光譜
輸出的測量項報表中的 圖表包括： Cdens-V，Cdens-L，Cdens-LumE，Cdens-EQE，CIE1931，Spectra