目錄:牛津儀器(上海)有限公司>>Ultim>> Ultim® Extreme
Ultim Extreme 硅漂移探測器是高分辨率場發射掃描電鏡應用的一個突破,可提供遠遠超越傳統微米和納米分析的解決方案。
Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款無窗能譜,晶體面積100mm2,經優化設計來盡可能提高靈敏度和空間分辨率。它采用跑道型結構設計,優化高分辨率場發射掃描電鏡在低加速電壓和短工作距離下工作時的成像和EDS性能,使用Ultim Extreme,EDS的空間分辨率接近掃描電鏡的分辨率。