SEMICON China 2021將于2021年3月17-19日在上海新博覽中心舉辦，珀金埃爾默公司作為半導體行業分析檢測設備和技術的供應商之一，將攜解決方案和多款儀器亮相。
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半導體行業檢測解決方案簡介
珀金埃爾默半導體行業無機元素與納米顆粒檢測方案
在半導體器件和化學品制造的分析中，痕量元素雜質的控制對于性能具有至關重要的作用，甚至影響半導體產品的良品率。半導體制造商需要在整個制造過程中擁有檢測超痕量污染物的能力，包括晶圓、超純水、化學試劑、光刻膠、電子特氣、封裝材料等。半導體工藝的進步，對元素雜質和微粒污染物檢測能力提出了更高的要求。
珀金埃爾默提供的NexION® 5000 化學高分辨多重四極桿ICP-MS，熱等離子體條件下可實現半導體必須元素低于1ppt（SEMI F63-0918) 的背景等效濃度。同時，該儀器可以升級，以滿足SEMI S2和S8標準。NexION系列ICP-MS可設置低至10μs的信號讀取時間，高精度測定拋光材料中懸浮金屬納米粒子的顆粒濃度、尺寸大小和分布信息，為光刻過程保駕護航。
珀金埃爾默半導體行業有機物檢測方案
半導體行業中使用的有機化合物的純度雜質影響到相關產品的質量。珀金埃爾默公司Clarus® SQ8氣相色譜質譜聯用儀具有準確的定性能力和優異的定量精度，是分析有機試劑純度和雜質的主要分析設備。
半導體行業使用的有機試劑也會產生相應的揮發性有機物，對生產和環境造成污染，包括AMC、VOCs等。珀金埃爾默公司熱脫附儀與氣相色譜質譜聯用，可實現潔凈室或生產區域內空氣的在線或離線采集進樣，并檢測出低濃度（<ppb）的有機污染物。
珀金埃爾默半導體行業材料組份檢測方案
針對半導體行業的IC封裝、顯示面板、光伏電池、光學薄膜等領域，珀金埃爾默公司憑借先進的傅里葉變換紅外光譜儀、紅外顯微鏡、紫外可見近紅外分光光度計、差示掃描量熱儀、熱機械分析儀等產品，一如既往為客戶提供全面的解決方案，可用于測定固化率、固化熱、熱膨脹系數、透光率、反射率、微觀污染物、成分濃度等。
半導體行業檢測技術研討會
2021年3月17日（周三）下午13:30-16:50
上海新博覽中心N3館M43會議室
（上海市浦東新區龍陽路2345號）
| 日程安排 | |
| 13:30-14:00 | 簽到 |
| 14:00-14:10 | 領導致詞 |
| 14:10-14:50 | 濕電子化學品標準體系介紹和質量要求 （主講人：李春華 上海市計量測試技術研究院） |
| 14:50-15:30 | 了解300mm大硅片 （主講人：陳微微 上海新昇半導體科技有限公司） |
| 15:30-15:40 | 茶歇 |
| 15:40-16:10 | 珀金埃爾默在半導體行業的綜合檢測方案 （主講人：華瑞 博士 珀金埃爾默材料表征應用市場經理） |
| 16:10-16:40 | NexION® 5000在半導體級電子化學品分析中的應用及優勢 （主講人：徐俊俊 珀金埃爾默資深技術支持） |
| 16:40-16:50 | 互動*環節 |
珀金埃爾默展臺
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展位號：T3337
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