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當前位置:北京亞科晨旭科技有限公司>>化合物半導體-工藝設備>> CAMTEK AOICAMTEK 自動光學檢驗AOI設備 表面檢查
產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 電子 |
Camtek提供了一個*自動化的表面檢測系統,用于支持大容量生產環境而提供快速檢驗和計量功能。*的靈活平臺支持市場的應用程序,包括獨聯體、微機電系統、LED, OQC和記憶以及不同的流程步驟。
•2D缺陷檢驗和計量
•墊和調查分析
•2D CD測量
•高吞吐量、靈活設置
•在線和離線分類
•全自動化
•先進的缺陷檢測和計量處理引擎
•高分辨率三維共焦傳感器
Eagle-i
的2D表面缺陷檢驗和計量系統,實現高容量生產前2 d檢查解決方案和post-bumped晶片,探針標記檢查,OQc等等。
EagleT-i
設計的速度和準確性,Camtek EagleT-i是一個最快的和的2 d檢查工具在市場上。
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