CAMTEK  自動光學檢驗AOI設備 MEMS

Camtek檢驗和計量解決方案的微電子機械系統(MEMS)結合多種技術解決MEMS的2 d和3 d挑戰的行業。

我們*的靈活平臺支持MEMS產業廣泛的應用程序。
各種處理配置和特殊的發展可以支持各種晶片大小和類型。

功能

•整片2 d檢查和計量
•表面相關缺陷檢查
•各種處理解決方案(薄和泰科晶圓和更多)
•高分辨率的2 d和3 d測量
•多個照明配置各種功能的檢查
•靈活的檢測環境定制的應用程序

技術

•先進的缺陷檢測和計量處理引擎
•高分辨率三維共焦傳感器
•剪輯

產品

頭鷹

頭鷹年代的2 d表面缺陷檢驗和計量系統,實現高容量生產前2 d檢查解決方案和post-bumped晶片,探針標記檢查,OQc等等。

EagleT-i

設計的速度和準確性,Camtek EagleT-i是一個最快的和的2 d檢查工具在市場上。