目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>半導體材料測試>>霍爾電阻遷移率>> LEIModel1605非接觸遷移率測試系統
價格區間 | 面議 | 應用領域 | 醫療衛生,環保,食品,生物產業,綜合 |
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快速,非破壞
霍爾遷移率
方塊電阻
提高測試的重復性
與VDP法測試保持一致
上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續努力,不斷提升市場地位和影響力。