JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀 參考價(jià)：面議
JXA-iSP100 電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更先進(jìn)的...
CP截面樣品制備裝置 參考價(jià)：面議
IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將...
IB-19530CP截面樣品制備裝置 參考價(jià)：面議
IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿足市場多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺(tái)，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。
離子切片儀 參考價(jià)：面議
EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡...
低溫冷凍離子切片儀 參考價(jià)：200000
IB-09060CIS™ 低溫冷凍離子切片儀易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時(shí)間長，有效地抑制了熱損傷。
JED-2300/2300F 能譜儀 參考價(jià)：面議
JED-2300/2300F 能譜儀是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。通過與SEM的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)聯(lián)動(dòng)使用，可以進(jìn)行大范圍的觀察和分析...
JSM-IT200 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：500000
JSM-IT200 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡 是一款更簡潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。
JEOL臺(tái)式掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：200000
JCM-7000JEOL臺(tái)式掃描電子顯微鏡 NeoScope™ 是以“誰都可以操作的SEM/EDS“為理念的臺(tái)式掃描電子顯微鏡， 標(biāo)配Zeromag...
場發(fā)射掃描電鏡 參考價(jià)：500000
JSM-IT800場發(fā)射掃描電鏡具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍、新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Eng...
InTouchScope™ 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：500000
InTouchScope™ 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡日常使用的SEM，好用！ 該設(shè)備最高分辨率1nm、最大探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐...
掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：500000
JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需...
JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)...
超高壓透射電鏡 參考價(jià)：面議
JEM-1000 超高壓透射電鏡由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強(qiáng)的穿...
JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡，不僅擁有信譽(yù)的JEM-2100 的電子光學(xué)系統(tǒng)，還增加了最新的控制系統(tǒng)，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-...
TEM斷層掃描系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
EM-05500TGP TEM斷層掃描系統(tǒng)采用算法的軟件，實(shí)現(xiàn)了從獲取連續(xù)傾斜圖像到三維重構(gòu)整個(gè)過程的自動(dòng)化。
JED-2300T 能譜儀 參考價(jià)：面議
JED-2300T 能譜儀是以“圖像觀察和分析"為基本理念的TEM/EDS集成系統(tǒng)。在分析數(shù)據(jù)過程中，自動(dòng)采集電鏡主機(jī)的倍率、加速電壓等參數(shù)，進(jìn)行數(shù)據(jù)管理。
JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡配備了高靈敏度sCMOS相機(jī)、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動(dòng)功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120...
JEM-Z200FSC 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
JEM-Z200FSC 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標(biāo)配冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器（Ω能量過濾器）、液氮冷卻樣品...
NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
NEOARM 原子級分辨率透射電子顯微鏡標(biāo)配了日本電子獨(dú)自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加...
JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
JEM-ACE200F 高效分析型電子顯微鏡將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術(shù)整合在一起，實(shí)現(xiàn)了高度穩(wěn)定性和高分辨率，以精煉的外觀設(shè)計(jì)呈現(xiàn)。該...
JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設(shè)備在性能上有了進(jìn)一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間...
(JEM-3300) 場發(fā)射冷凍透射電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
(JEM-3300) 場發(fā)射冷凍透射電子顯微鏡是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質(zhì)等對電子束敏感的樣品，可進(jìn)行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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