薄膜電阻測試儀(四探針、電渦流) 參考價：面議
電阻測量和監控對于任何使用導電薄膜的行業都至關重要，從半導體制造到可穿戴技術所需的柔性電子產品。R50薄膜電阻測試儀(四探針、電渦流)在金屬膜均勻性分布、離子摻...
超低溫力學測試系統 參考價：面議
超低溫力學測試系統專用于超低溫環境的材料力學試驗機，溫度低至-269℃。
力電聯測試驗機 參考價：面議
力電聯測試驗機通過軟件關聯試驗機和電學儀表（LCR），實現力--電同步測試，除常規的試驗機測試外，還可得到：載荷\應力-電阻\電容、位移\應變-電阻\電容曲線。
材料試驗機 參考價：面議
材料力學試驗機，包括靜態、動態、沖擊試驗等，采用多種加載方式，如：機械加載、電/液伺服加載、多軸協調加載等
微納拉伸試驗機 參考價：面議
微納力學，微納拉伸測試，納米拉伸測試
納米壓痕儀 參考價：面議
高精度納米力學測試系統，原位納米力學測試平臺。
原子力顯微鏡 參考價：面議
原子力顯微鏡可進行高精度的粗糙度、臺階高度及微納米級別三維輪廓等測量，同時可以測量相位、電場、磁場、導電力等其他各種高級物理量。
橢偏儀 參考價：面議
橢偏儀：超薄膜的實時可視化分析測試，實時觀察樣品微觀尺度上的結構?？梢詼y量諸如薄膜厚度、折射率和吸收系數等參數。也可以對薄膜進行區域化(選區)分析，獲得所選區域...
反射膜厚儀 參考價：面議
反射膜厚儀采用反射干涉原理，無損測量薄膜厚度及其光學參數。
白光干涉儀 參考價：面議
白光干涉垂直掃描和移相干涉測量法，0.1nm臺階，采用TotalFocus 技術，全視場真彩色圖像。
多模組三維光學輪廓儀 參考價：面議
多模組三維光學輪廓儀標配ZDot白光共聚焦逐層成像，可選裝多模式光學系統。
探針式輪廓儀（臺階儀） 參考價：面議
探針式輪廓儀（臺階儀）高精度、低噪聲、高穩定性和大掃描量程，這些技術特點為P系列臺階儀在晶圓測試領域的廣泛使用奠定了堅實的基礎，也為其拓展了在其他材料測試方面的...
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