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當前位置:北京亞科晨旭科技有限公司>>薄膜制備>>磁控濺射>> ULVAC QAM系列ULVAC 研究開發(fā)用濺射設備 QAM系列
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號ULVAC QAM系列
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
更新時間:2024-09-25 13:59:46瀏覽次數(shù):969次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)鍍膜:磁控濺射系統(tǒng)Discovery ® 635/785
ULVAC 研究開發(fā)用濺射設備 QAM系列
QAM 系列鍍膜設備是一種用于研究開發(fā)的精密濺射鍍膜機,可用于各種基板上的包括磁性材料薄膜、超晶格薄膜的濺射鍍膜制程
主要特征
A.低壓濺 工藝環(huán)境
l 能在較低壓力下進行濺射成膜(持續(xù)放電壓力 1~0.1Pa
B.應對磁性材料薄膜的制程
l 陰極可以安裝各種磁場材料的靶材(Fe、Ni、Co 等)
C.多組分共成膜/多層成膜
l 多陰極同時對位基板中心,能夠進行多組分共成膜
l 開閉可控的擋板設計實現(xiàn)多層膜的制備
D. 良好的膜厚均勻性/穩(wěn)定沉積
l 傾斜入射的濺射過程,實現(xiàn)良好的膜厚均勻性
l 采用ULVAC-LTS※ 1技術(shù),大程度抑制陰極邊緣不勻等
離子體對基板的影響,實現(xiàn)穩(wěn)定沉積
注 )※ 1:LTS:Long Throw Sputter
E. UHV 對應
l 通過增加選項標準部品,可實現(xiàn)腔體本底 高真空:1.0×10‐6Pa 以下真空壓力。
F. 高拓展性
l 通過變更相應模塊或部件適應性設計,來實現(xiàn)更多用途
低真空工藝環(huán)境
本設備具備約1Pa~0.1Pa的等離子體持續(xù)放電壓力范圍,與傳統(tǒng)設備相比能 夠在更低壓力下進行濺射成膜。
多組分共濺射/多層膜濺射
本設備具有多陰極同時對準襯底中心的結(jié)構(gòu),從而能夠進行多組分共濺射成 膜。另外可以通過控制擋板開閉實現(xiàn)多層膜的制備。
良好的膜厚分布
本設備采用對襯底傾斜的入射方式,從而能夠?qū)崿F(xiàn)非常良好的膜厚分布。
LTS的采用
本設備通過采用ULVAC的LTS ※ 1技術(shù),從而能夠盡可能的抑制陰極附近的不均勻等離子體對襯底的影響。
并且,該技術(shù)還能夠盡可能的抑制來自陰極磁鐵磁場的影響。 注)※ 1:LTS:Long Throw Sputter
對磁性材料薄膜的對應
本設備中使用的陰極能夠?qū)鞣N磁性材料(Fe、Ni、Co等)。
操作界面前置
本設備通過將操作界面集中配置在設備前方,使得操作者能夠僅在設備正面完 成設備的開啟、關(guān)閉以及成膜等操作。先進的功能、直觀的的操作以及安全性的實現(xiàn)
Repeatability
能夠確保再現(xiàn)性
本設備能夠?qū)⒊赡ず图訜岬南嚓P(guān)參數(shù)作為Recipe保存,從而通過自動運行來實現(xiàn)高再現(xiàn)性的實驗。
Safety
能夠在Interlock設置下安全操作
本設備能夠通過設置Interlock來防止誤操作,從而實現(xiàn)對設備的保護和對人身安全的確保。同時,本設備能夠一并管理設備狀態(tài),還能夠 任意設定靶材壽命等參數(shù)在某數(shù)值下報警。
直觀的操作界面
本設備中排氣和工藝的操作按鈕以動作流程為基準而配置,從而能夠直觀地進行操作工藝。
能夠進行工藝數(shù)據(jù)分析
本設備能夠每隔1秒將工藝進行時的壓力、加熱、成膜時間的當前值作為履歷并按時間序列(Time Series)記錄。收集的數(shù)據(jù)以文本格式保在外部存儲器中,并且能夠利用計算機對保存的數(shù)據(jù)進行分析和記錄。
高拓展性
本設備能夠通過模塊的增設,來對應更多的用途。
低真空工藝環(huán)境
本設備具備約1Pa~0.1Pa的等離子體持續(xù)放電壓力范圍,與傳統(tǒng)設備相比能夠在更低壓力下進行濺射成膜。
多組分共濺射/多層膜濺射
本設備具有多陰極同時對準襯底中心的結(jié)構(gòu),從而能夠進行多組分共濺射成膜。另外可以通過控制擋板開閉實現(xiàn)多層膜的制備。
良好的膜厚分布
本設備采用對襯底傾斜的入射方式,從而能夠?qū)崿F(xiàn)非常良好的膜厚分布。
采用LTS技術(shù)
本設備通過采用ULVAC的LTS※1技術(shù),從而能夠盡可能的抑制陰極附近的不均勻等離子體對襯底的影響。
并且,該技術(shù)還能夠盡可能的抑制來自陰極磁鐵磁場的影響。注)※1:LTS:Long Throw Sputter
UHV對應
本設備通過使用可加熱式的各配置,使得成膜腔室的壓力能夠到達1×10-6Pa※2以下。
注)※2:本設備采用O-Ring Seal結(jié)構(gòu),與傳統(tǒng)設備的金屬Seal結(jié)構(gòu)相比更加容易進行維護保養(yǎng)。
對磁性材料薄膜的對應
本設備中使用的陰極能夠?qū)鞣N磁性材料(Fe、Ni、Co等)。
諸單元 | 型 號 | QAM-4D | |
成膜腔室 | 處理方式 | Load-L | ock式 |
陰極型式 | Long Throw Magnetron Sputtering ●Helicon-Sputtering※1 ※可選 | ||
陰極數(shù) | 2英寸陰極(磁性材料、非磁性材料共用) 多搭載8臺 | ||
搭載電源 | DC500W 1臺
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到達壓力(UHV對應) | 1×10-4Pa 以下 (●1×10-6Pa 以下能夠?qū)?/span>※3 ※可選) | ||
對應襯底尺寸 | Max.φ4英寸×1枚 | ||
膜厚分布 | ±5%以內(nèi)(Al成膜式、襯底回轉(zhuǎn)并用) | ||
襯底加熱裝置 |
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排氣系統(tǒng) | 1)分子泵 2)油旋片泵
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大氣體輸入量 | Max.50sccm(Ar) ●Max.10sccm(O2) ※可選
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靶材尺寸 | φ2英寸 | ||
| 腔體加熱方式 |
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真空預抽室 | 到達壓力(分子泵對應) | 40Pa以下(●1× | 10-3Pa 以下 ※可選) |
搬送方式 | 真空機械手式 | ||
排氣系統(tǒng) | 油旋片泵(
| 與成膜室共用) ※可選 | |
操作控制系統(tǒng) | 排氣 | 觸屏式(PLC控制器) 遠程手動※4 全自動※5 | |
成膜 | |||
廠務系統(tǒng) | 電力 | 3φ AC200V 50 / 60Hz | |
冷卻水 | 20~28℃、電阻率5KΩ以上、 供給壓力0.2 ~ 0.3MPa | ||
壓縮空氣 | 0.5 ~ 0.7MPa | ||
接地 | A類、D類 |
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